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International Journal of Innovation and Applied Studies
ISSN: 2028-9324     CODEN: IJIABO     OCLC Number: 828807274     ZDB-ID: 2703985-7
 
 
Mardi 15 Juin 2021

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  Appel à Contribution - Août 2021     |     IJIAS est indexée dans EBSCO, ResearchGate, ProQuest, Chemical Abstracts Service, Index Copernicus, IET Inspec Direct, Ulrichs Web, Google Scholar, CAS Abstracts, J-Gate, UDL Library, CiteSeerX, WorldCat, Scirus, Research Bible et getCited, etc.  
 
 
 

El Hadj SOW


Personal

Name El Hadj SOW
Affiliation Laboratoire des Semi-conducteurs et d’Energie Solaire, Faculté des Sciences et Techniques, Université Cheikh Anta Diop, Dakar, Senegal

Documents: 1

Document title Date Issue
Optimum base thickness determination technique as applied to n/p/p+ silicon solar cell under short wavelengths monochromatic illumination
[ Technique de détermination de l'épaisseur optimum de la base appliquée à une photopile n+ /p / p + au silicium sous éclairement monochromatique de courtes longueurs d'onde ]

Author(s): Meimouna MINT SIDI DEDE, Mor Ndiaye, Sega GUEYE, Mamadou Lamine BA, Ibrahima Diatta, Marcel Sitor DIOUF, El Hadj SOW, Amadou Mamour BA, Massamba DIOP, and Grégoire SISSOKO
Show abstract   Full Text
2020 29 (3) , pp. 576-586